Imaging of phase change materials below a capping layer using correlative infrared near-field microscopy and electron microscopy

Lewin, Martin; Hauer, Benedikt; Bornhöfft, Manuel; Jung, Lena; Benke, Julia; Michel, Ann-Katrin U.; Mayer, Joachim; Wuttig, Matthias; Taubner, Thomas (Corresponding author)

Melville, NY : American Inst. of Physics (2015)
Fachzeitschriftenartikel

In: Applied physics letters
Band: 107
Heft: 15
Seite(n)/Artikel-Nr.: 151902

Kurzfassung

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