Imaging of phase change materials below a capping layer using correlative infrared near-field microscopy and electron microscopy

Lewin, Martin; Hauer, Benedikt; Bornhöfft, Manuel; Jung, Lena; Benke, Julia; Michel, Ann-Katrin U.; Mayer, Joachim; Wuttig, Matthias; Taubner, Thomas (Corresponding author)

Melville, NY : American Inst. of Physics (2015)
Fachzeitschriftenartikel

In: Applied physics letters
Band: 107
Heft: 15
Seite(n)/Artikel-Nr.: 151902

Kurzfassung

Einrichtungen

• Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie [025000]
• JARA-FIT [080009]
• Fachgruppe Physik [130000]
• Lehrstuhl für Experimentalphysik I A und I. Physikalisches Institut [131110]
• Lehr- und Forschungsgebiet Metamaterialien und Nano-Optik [136720]