Quasi-analytical model for scattering infrared near-field microscopy on layered systems

Hauer, Benedikt; Engelhardt, Andreas P.; Taubner, Thomas (Corresponding author)

Washington, DC : Optical Society of America (2012)
Fachzeitschriftenartikel

In: Optics express
Band: 20
Heft: 12
Seite(n)/Artikel-Nr.: 13173-13188

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