Quasi-analytical model for scattering infrared near-field microscopy on layered systems

Hauer, Benedikt; Engelhardt, Andreas P.; Taubner, Thomas (Corresponding author)

Washington, DC : Optical Society of America (2012)
Fachzeitschriftenartikel

In: Optics express
Band: 20
Heft: 12
Seite(n)/Artikel-Nr.: 13173-13188

Einrichtungen

• JARA-FIT [080009]
• Fachgruppe Physik [130000]
• Lehrstuhl für Experimentalphysik I A und I. Physikalisches Institut [131110]
• Lehr- und Forschungsgebiet Metamaterialien und Nano-Optik [136720]