Quasi-analytical model for scattering infrared near-field microscopy on layered systems

Washington, DC / Optical Society of America (2012) [Fachzeitschriftenartikel]

Optics express
Band: 20
Ausgabe: 12
Seite(n): 13173-13188

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Hauer, Benedikt
Engelhardt, Andreas P.
Taubner, Thomas

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