Stoichiometry dependence of resistance drift phenomena in amorphous GeSnTe phase-change alloys

Luckas, J.; Piarristeguy, A.; Bruns, G.; Jost, P.; Grothe, S.; Schmidt, R. M.; Longeaud, C.; Wuttig, Matthias

Melville, NY : AIP [u.a.] (2013)
Fachzeitschriftenartikel

In: Journal of applied physics
Band: 113
Heft: 2
Seite(n)/Artikel-Nr.: 023704

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