Atomic force microscopy study of laser induced phase transitions in Ge2Sb2Te5

Weidenhof, V.; Friedrich, I.; Ziegler, Stefan; Wuttig, Matthias

Melville, NY : AIP [u.a.] (1999)
Fachzeitschriftenartikel

In: Journal of applied physics
Band: 86
Heft: 10
Seite(n)/Artikel-Nr.: 5879-5887

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