Atomic force microscopy study of laser induced phase transitions in Ge2Sb2Te5
Weidenhof, V.; Friedrich, I.; Ziegler, Stefan; Wuttig, Matthias
Melville, NY : AIP [u.a.] (1999)
Fachzeitschriftenartikel
In: Journal of applied physics
Band: 86
Heft: 10
Seite(n)/Artikel-Nr.: 5879-5887
Einrichtungen
- Lehrstuhl für Experimentalphysik I A und I. Physikalisches Institut [131110]
- Fachgruppe Physik [130000]
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1063/1.371606
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-CONV-074554