In situ measurements of thickness changes and mechanical stress upon gasochromic switching of thin MoOx films

Okumu, J.; Koerfer, F.; Salinga, Christian Lothar; Wuttig, Matthias

Melville, NY : IOP Publ. (2004)
Fachzeitschriftenartikel

In: Journal of applied physics
Band: 95
Heft: 12
Seite(n)/Artikel-Nr.: 7632-7636

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