Threshold field of phase change memory materials measured using phase change bridge devices

Krebs, Daniel; Raoux, Simone; Rettner, Charles T.; Burr, Geoffrey W.; Salinga, Martin; Wuttig, Matthias

Melville, N.Y : American Institute of Physics (2009)
Fachzeitschriftenartikel

In: Applied physics letters
Band: 95
Heft: 8
Seite(n)/Artikel-Nr.: 082101

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