Characterisation of porous silicon layers by spectroscopic ellipsometry
Rossow, U.; Münder, H.; Thönissen, M.; Theiss, W.
Amsterdam : North-Holland Publ. (1993)
Fachzeitschriftenartikel
In: Journal of luminescence
Band: 57
Seite(n)/Artikel-Nr.: 205
Einrichtungen
- Lehr- und Forschungsgebiet Experimentalphysik [131720]
- Lehr- und Forschungsgebiet Physik [131820]
- Lehrstuhl für Experimentalphysik I A und I. Physikalisches Institut [131110]
- Fachgruppe Physik [130000]
Identifikationsnummern
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-CONV-055815