Chemical composition of porous silicon layers studied by IR spectroscopy

Theiss, W.; Grosse, P.; Münder, H.; Lüth, H.; Herino, R.; Ligeon, M.

Amsterdam [u.a.] : Elsevier (1993)
Fachzeitschriftenartikel

In: Applied surface science
Band: 63
Seite(n)/Artikel-Nr.: 240-244

Einrichtungen

• Lehr- und Forschungsgebiet Experimentalphysik [131720]
• Lehr- und Forschungsgebiet Physik [131820]
• Lehrstuhl für Experimentalphysik I A und I. Physikalisches Institut [131110]
• Fachgruppe Physik [130000]