Characterization of amorphous organic thin films, determination of precise model for spectroscopic ellipsometry measurements

Farahzadi, Azadeh; Beigmohamadi, Maryam; Niyamakom, Phenwisa; Kremers, Stephan; Meyer, Nico; Heuken, Michael; Wuttig, Matthias

Amsterdam [u.a.] : Elsevier (2010)
Fachzeitschriftenartikel

In: Applied surface science
Band: 107
Heft: 22
Seite(n)/Artikel-Nr.: 6612-6617

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