Advanced characterization tools for thin films in low-E systems

Weis, H.; Müggenburg, T.; Friedrich, I.; Grosse, P.; Herlitze, L.; Wuttig, Matthias

Amsterdam [u.a.] : Elsevier (1999)
Fachzeitschriftenartikel

In: Thin solid films
Band: 351
Seite(n)/Artikel-Nr.: 184-184

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