Structure property relations of BST thin films

Fitsilis, Fotios; Regnery, Stefan; Ehrhart, Peter; Waser, Rainer; Schienle, Frank; Schumacher, Marcus; Jürgensen, Holger

Philadelphia, Pa : Gordon and Breach Science Publ. (2001)
Fachzeitschriftenartikel

In: Integrated ferroelectrics
Band: 38
Heft: 1/4
Seite(n)/Artikel-Nr.: 855-864