Atomic force microscopy measurements of crystal nucleation and growth rates in thin films of amorphous Te alloys
Kalb, J.; Spaepen, F.; Wuttig, Matthias
Melville, N.Y : American Institute of Physics (2004)
Fachzeitschriftenartikel
In: Applied physics letters
Band: 84
Seite(n)/Artikel-Nr.: 5240-5240
Einrichtungen
- Lehrstuhl für Experimentalphysik I A und I. Physikalisches Institut [131110]
- Fachgruppe Physik [130000]
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1063/1.1764591
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-CONV-028460