Atomic force microscopy measurements of crystal nucleation and growth rates in thin films of amorphous Te alloys

Kalb, J.; Spaepen, F.; Wuttig, Matthias

Melville, N.Y : American Institute of Physics (2004)
Fachzeitschriftenartikel

In: Applied physics letters
Band: 84
Seite(n)/Artikel-Nr.: 5240-5240

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