Temperature stability of sputtered niobium oxide films

Venkataraj, S.; Drese, Robert Jens; Liesch, C.; Kappertz, Oliver; Jayavel, R.; Wuttig, Matthias

Melville, NY : AIP (2002)
Fachzeitschriftenartikel

In: Journal of applied physics
Band: 91
Seite(n)/Artikel-Nr.: 4863-4863

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