Structural transformations of Ge2Sb2Te5 films studied by electrical resistance measurements

Friedrich, I.; Weidenhof, V.; Njoroge, Walter Kamande; Franz, P.; Wuttig, Matthias

Melville, NY : American Institute of Physics, AIP (2000)
Fachzeitschriftenartikel

In: Journal of applied physics
Band: 87
Seite(n)/Artikel-Nr.: 4130-4130

Identifikationsnummern