Characterization of porous silicon layers by reflectance spectroscopy
Theiss, W.; Grosse, P.; Münder, H.; Lüth, H.; Herino, R.; Ligeon, M.
(1993)
Beitrag zu einem Tagungsband
In: Proc. Mat. Res. Soc. Sympos. 238 (1993)
Seite(n)/Artikel-Nr.: 215
Einrichtungen
- Lehr- und Forschungsgebiet Experimentalphysik [131720]
- Lehr- und Forschungsgebiet Physik [131820]
- Lehrstuhl für Experimentalphysik I A und I. Physikalisches Institut [131110]
- Fachgruppe Physik [130000]
Identifikationsnummern
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-CONV-192784