Metallic filamentary conduction in valence change-based resistive switching devices: the case of TaO x thin film with x ∼ 1

Rosário, Carlos M. M. (Corresponding author); Thöner, Bo; Schönhals, Alexander; Menzel, Stephan; Meledin, Alexander; Barradas, Nuno P.; Alves, Eduardo; Mayer, Joachim; Wuttig, Matthias; Waser, Rainer; Sobolev, Nikolai A.; Wouters, Dirk J.

Cambridge : RSC Publ. (2019)
Fachzeitschriftenartikel

In: Nanoscale
Band: 11
Heft: 36
Seite(n)/Artikel-Nr.: 16978-16990

Einrichtungen

• Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie [025000]
• Lehrstuhl für Mikrostrukturanalytik [025010]
• JARA-FIT [080009]
• Fachgruppe Physik [130000]
• Lehrstuhl für Experimentalphysik I A und I. Physikalisches Institut [131110]
• Lehrstuhl für Werkstoffe der Elektrotechnik II und Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik [611610]