Analysis of band bending at III-V semiconductor interfaces by Raman spectroscopy

Amsterdam / Elsevier (1993) [Fachzeitschriftenartikel]

Surface science
Band: 18
Seite(n): 1-1

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Geurts, J.

Identifikationsnummern

  • REPORT NUMBER: RWTH-CONV-055824