Infrared reflection studies of ceramics: Characterization of SiC layers on graphite substrates

Hopfe, V.; Grählert, W.; Brennfleck, K.; Korte, E. H.; Theiss, W.

Berlin [u.a.] : Springer (1993)
Fachzeitschriftenartikel

In: Fresenius journal of analytical chemistry
Band: 346
Seite(n)/Artikel-Nr.: 99-103