Characterization of porous silicon layers by reflectance spectroscopy
(1993) [Beitrag zu einem Tagungsband]
Proc. Mat. Res. Soc. Sympos. 238 (1993)
Seite(n): 215
Autorinnen und Autoren
Ausgewählte Autorinnen und Autoren
Theiss, W.
Grosse, P.
Münder, H.
Lüth, H.
Herino, R.
Weitere Autorinnen und Autoren
Ligeon, M.
Identifikationsnummern
- REPORT NUMBER: RWTH-CONV-192784